扫描电子显微镜SEM

  • 仪器名称扫描电子显微镜SEM
  • 仪器型号Apreo 2
  • 厂商/品牌
  • 资产编号
  • 放置地点
  • 设备状态
  • 联系方式

· 仪器简介:

SEM主要用于固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。它既可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在微米、纳米级样品的表面特征,配备的EDS也可以支持点、线及面上的元素扫描,能准确分析样品在元素分布。

 

· 测试项目:

1.观察样品形貌(SE、BSE);

2.配备EDS,可对材料成分进行定性半定量分析,可检测5号元素(B)-92号元素(U);

3.配备EBSD,可进行晶体微区取向和晶体结构的分析。

 

· 技术指标:

1.极佳的灵活性,可处理各类样品(包括绝缘材料、敏感材料、磁性样品)并采集重要数据。

2.SmartAlign(智能对中)技术实现光学系统自动对中,减少维护时间。

3.元素信息触手可及,利用 ColorSEM 技术进行实时元素面分布成像定量分析,结果获取更加快速、简便。

4.先进的自动化功能,如 FLASH(闪调)技术可用于图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接等。

5.分辨率:0.9nm@1kV,0.8nm@1kV(减速模式), 1.0nm@1kV(减速模式,10mm工作距离)。

 

· 应用范围:

1.亚纳米分辨率成像,适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、块状磁性样品等各类材料,在大工作距离(10mm)下也可实现。

2.极佳的灵活性,可处理各类样品(包括绝缘材料、敏感材料、磁性样品)并采集重要数据。

 

· 应用案例: