显微表征
  • 扫描电子显微镜SEM

    型号:Apreo 2
    1.观察样品形貌(SE、BSE);
    2.配备EDS,可对材料成分进行定性半定量分析,可检测5号元素(B)~92号元素(U);
    3.配备EBSD,可进行晶体微区取向和晶体结构的分析。

  • 透射电子显微镜TEM

    型号:JEM-F200
    1.观察样品形貌(TEM、HRTEM、STEM、明场、暗场);
    2.配备超级双能谱仪,可对材料成分进行定性半定量分析,可检测5号元素(B)~92号元素(U);
    3.利用选区电子衍射(SAED)对晶体结构进行分析。

  • 原子力显微镜AFM

    型号:Dimension Lcon
    1.薄膜表面形貌分析(2D、3D),表面粗糙度测量;
    2.在测试高分辨率形貌的基础上,还可以测试样品的力学(摩擦力,模量及黏附力等),电学(静电力,压电力,表面电势等)和磁学等多种性能。

  • 超声扫描显微镜C-SAM

    型号:D9600
    1.失效分析、工艺改进、材料定性分析;
    2.反射模式、透射模式;
    3. Multi-Gate 和Probing-Gate 功能允许单层或多层聚焦成像。

  • 激光共聚焦显微镜

    型号:VK-X1000
    1.样品表面形貌、粗糙度测试;
    2.1nm~50mm高精度测量;
    3.长度、深度、面积测量。

  • 傅里叶红外显微镜

    · 测试项目:1.观察样品形貌(TEM、HRTEM、STEM、明场、暗场);