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芯科普 | 跨越摩尔定律,芯粒集成技术引领芯片性能新纪元

发布时间:2024-09-07

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在随着对电子设备性能要求的不断提升,传统的单芯片封装方式已经无法满足市场对于高密度、高性能、小尺寸的需求。因此,芯粒封装技术应运而生,成为集成电路领域的关键创新点。

芯粒封装技术,作为集成电路领域的一项创新,提供了一种全新的解决方案。它通过优化芯片的布局和连接方式,实现了更高的集成度和更优的性能表现。这些技术包括但不限于MCM封装技术、2.5D封装技术、3D堆栈封装技术以及3D FO封装技术,每一种都以其独特的方式推动了电子设备的性能极限。

接下来,我们讲对这四种芯粒封装技术进行讲解。

芯粒集成技术,以其突破性的创新,为半导体产业带来了新的生机。尽管目前仍处于发展阶段,但它在提升芯片性能和集成度方面的潜力已经初露端倪。随着技术的成熟和市场的拓展,我们期待芯粒技术能够在算力大模型时代发挥关键作用,推动半导体产业迈向更高峰。让我们拭目以待,这一技术如何在未来塑造我们的数字世界。


参考来源:

1.马鹏.芯粒集成技术研究进展[J].焦作大学学报,2024,38(03):62-67.

2.王成迁,汤文学,戴飞虎,等.面向大算力应用的芯粒集成技术[J].电子与封装,2024,24(06):48-53.

3.英特尔Foveros 3D封装技术,https://mp.weixin.qq.com/s/lQUzhOj1Cr-vKm9nWjzalA

4.3D芯片SiP与POP堆叠封装技术,https://mp.weixin.qq.com/s/B6iRSI2EmGnbxbUE4Evq6g


来源:文化宣传办

审核:吴晓琳